Thermocouple and RDT Measurement
熱電対(TC)、測温抵抗体(RTD)を搭載したNAI社の熱測定スマートファンクションモジュール
ビルトインテスト(BIT)/診断機能
自動バックグラウンドBITテストが可能です。各チャンネルは、オンボードの公称100Ωの抵抗を使用して、A/D動作が正しいかどうかをチェックします。オープン入力検出テストでは、A/Dコンバータ入力に0.5μAの電流が流れます。FPGAはその後、フルスケールの読み取りをテストし、オープン回路を示します。失敗すると割り込みが入り、その結果はステータス・レジスタに表示されます。このテストはユーザに対して完全に透過的で、このモジュールの動作に何の影響も与えません。テストは有効にも無効にもできます。デフォルトでは有効になっています。
Platforms Supported
3U VPX (3 Modules) 6U VPX (6 Modules) 3U cPCI (3 Modules)
6U cPCI (6 Modules) VME (6 Modules) PCIe (3 Modules)